Způsob měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí a zařízení pro provádění tohoto způsobu měření

Dne 24.5.2017 bylo ve věstníku Úřadu průmyslového vlastnictví zveřejněno udělení patentu „Způsob měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí a zařízení pro provádění tohoto způsobu měření“. Původcem patentu je doc. Petr Fryčák z Katedry analytické chemie.
Link